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掃描電鏡是一種用途廣泛的科學(xué)研究?jī)x器,是通過(guò)電子束來(lái)成像的,,其放大倍數(shù)可達(dá)幾十萬(wàn)倍,分辨率可達(dá)納米級(jí)別,是形貌和成分分析領(lǐng)域極其重要的一種工具。$n掃描電鏡測(cè)試項(xiàng)目:$nSEM:形貌觀察,利用背散射電子(BEI)和二次電子(SEI)來(lái)成像,可放大倍率5-100萬(wàn)倍 。$nEDS:成分分析(半定量),通過(guò)特征X-RAY獲取樣品表面的成分信息,測(cè)量Be及以上元素。
納米材料分析技術(shù)場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡測(cè)試,場(chǎng)發(fā)射掃描電子顯微鏡的工作原理基于場(chǎng)發(fā)射電子槍和電子束掃描成像技術(shù),其核心在于利用高亮度、低能量分散的電子束與樣品相互作用,通過(guò)探測(cè)器收集信號(hào)形成高分辨率圖像,并結(jié)合附加功能(如能譜分析EDS)提供多維信息。
場(chǎng)發(fā)射掃描電鏡測(cè)試?yán)脠?chǎng)發(fā)射電子槍產(chǎn)生高能量的電子束,當(dāng)電子束與樣品相互作用時(shí),會(huì)產(chǎn)生二次電子、背散射電子等信號(hào)。二次電子主要來(lái)自樣品表面淺層,對(duì)樣品表面形貌非常敏感,可用于觀察樣品的表面細(xì)節(jié);背散射電子則與樣品原子序數(shù)有關(guān),通過(guò)分析背散射電子的信號(hào)可以了解樣品表面不同區(qū)域的成分差異。
SEM掃描電鏡檢測(cè)是一種在材料科學(xué)和納米科學(xué)領(lǐng)域中廣泛使用的設(shè)備,其能力使它成為研究微觀結(jié)構(gòu)和性能的重要工具。