工欲善其事，必先利其器。選擇正確的表面粗糙度檢測方法，是獲得可靠數(shù)據(jù)的前提。作為擁有完整檢測方案平臺的機(jī)構(gòu)，我們經(jīng)常被客戶問及：“我們應(yīng)該用哪種設(shè)備？" 本文將深度解析接觸式與非接觸式兩大技術(shù)流派的原理、優(yōu)劣與適用場景，助您做出明智選擇。

一、 接觸式測量：黃金標(biāo)準(zhǔn)的觸針式輪廓儀

這是目前實(shí)驗(yàn)室和工廠主流、常用的測量方法。

工作原理：一個(gè)半徑極?。ㄍǔ?/span>2μm）的金剛石觸針，以恒定輕壓在工件表面勻速滑行。表面的微觀起伏使觸針產(chǎn)生垂直位移，該位移被轉(zhuǎn)換為電信號，經(jīng)處理后得到粗糙度參數(shù)和輪廓曲線。

核心標(biāo)準(zhǔn)：遵循ISO 4287、ASME B46.1、GB/T 3505等國際/國家標(biāo)準(zhǔn)。

優(yōu)點(diǎn)：

直接可靠：直接接觸表面，測量結(jié)果穩(wěn)定，是驗(yàn)收的依據(jù)。

抗干擾強(qiáng)：對工件顏色、材質(zhì)、反光性不敏感。

功能全面：可測量包括Ra、Rz、Rsm在內(nèi)的幾乎所有參數(shù)，并能繪制輪廓曲線。

缺點(diǎn)：

可能存在測力：對于極軟材料（如軟鋁、塑料、涂層），存在劃傷風(fēng)險(xiǎn)。

測量速度慢：逐點(diǎn)掃描，效率相對較低。

對尖銳邊緣和深窄槽測量困難。

二、 非接觸式測量：新興的光學(xué)3D測量技術(shù)

主要包括白光干涉儀和激光共聚焦顯微鏡。

工作原理：

白光干涉儀：利用光源的分光器，將光束分別投射到參考鏡和樣品表面。當(dāng)兩束光反射回來相遇時(shí)，會因光程差產(chǎn)生干涉條紋，通過分析條紋變化，重建出表面的3D形貌。

激光共聚焦顯微鏡：通過一個(gè)針孔濾除焦平面以外的雜散光，逐點(diǎn)掃描并獲得高分辨率的3D圖像。

優(yōu)點(diǎn)：

樣品無損：無接觸，適用于任何軟、脆、粘性材料。

測量極快：可瞬間獲取數(shù)十萬甚至上百萬個(gè)數(shù)據(jù)點(diǎn)，生成3D形貌圖。

數(shù)據(jù)分析豐富：不僅能得到傳統(tǒng)2D參數(shù)，還能計(jì)算3D參數(shù)（如Sa, Sq），進(jìn)行紋理、體積、臺階高度等高級分析。

缺點(diǎn)：

對表面敏感：透明、高反光、吸光表面測量困難，可能需要噴粉處理。

設(shè)備成本高。

環(huán)境振動敏感，需要穩(wěn)定的測量環(huán)境

三、 如何選擇：一張表格為您解惑

結(jié)語：

沒有一種方法是通用的。觸針式是解決絕大多數(shù)工業(yè)問題的標(biāo)準(zhǔn)答案，而光學(xué)3D測量則是應(yīng)對特殊材料、進(jìn)行前沿研發(fā)的超級技術(shù)。在優(yōu)爾鴻信檢測的實(shí)驗(yàn)室，兩類設(shè)備協(xié)同工作。我們的工程師會根據(jù)您的材料、精度要求和預(yù)算，推薦合適的檢測方案，確保您以更高的性價(jià)比，獲得最需要的數(shù)據(jù)。